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Fischer膜厚儀的原理及選擇
日期：2025-04-30 17:51
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摘要：
除了精密的測量儀器二次元與三坐標之外，在測量薄膜厚度時，我們還會經(jīng)常的使用一種儀器，就是Fischer膜厚儀。
Fischer膜厚儀又叫膜厚計、膜厚測試儀，可分為磁感應鍍層測厚儀、電渦流鍍層測厚儀與熒光X射線儀鍍層測厚儀。 它的主要測量方法是采用磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
磁性測厚法的膜厚儀是一種超小型測量儀，它能快速，無損傷，**地進行鐵磁性金屬基體上的噴涂。電鍍層厚度的測量?？蓮V泛用于制造業(yè)，金屬加工業(yè)，化工業(yè)，商檢等檢測領域。特別適用于工程現(xiàn)場測量。
二次熒光法的測厚儀的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。
Fischer膜厚儀的選擇
選擇一款適合自己使用的Fischer膜厚儀，對使用者來說非常重要，它直接決定了測量的結果，那么如何從眾多種類中去選擇合適的Fischer膜厚儀呢？
Fischer膜厚儀的選擇，首先取決于你所測產(chǎn)品的結構。如果只是簡單的涂層，銅箔使用普通的膜厚儀就可以解決了。如果測電鍍層的厚度，而且具有幾層鍍層，那么就要使用x-射線膜厚儀。單鍍層厚度大于0.5um的還可以采用金相法觀察。
采用電渦流原理的Fischer膜厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。
